印制板ATE和集成电路ATE综述 |
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引用本文: | 孙焕根,齐鸣.印制板ATE和集成电路ATE综述[J].国外电子测量技术,1998(2):2-3. |
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作者姓名: | 孙焕根 齐鸣 |
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摘 要: | 随着大规模集成电路(VLSI)设备的实时测试和单芯片系统时代的到来,集成电路ATE设计人员忙于推出新的设计方案。他们不仅致力于测试技术的更新,更关注测试成本的降低,此外,全新的设备封闭使节点测试日益困难,印制电路ATE制造商为了保证所要求的高故障覆盖区,正努力改进测量流程。编辑部访问了几个主要的集成电路ATE和印制板ATE制造厂商负责人,并提供了新产品信息和98年的开发计划。
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关 键 词: | ATE 集成电路 印制板 VLSI 测试 |
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