遵循技术要求 TD-LTE系统设备测试顺利完成 |
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作者姓名: | 沈嘉 |
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作者单位: | 工业和信息化部电信研究院通信标准研究所 |
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摘 要: | 系统设备测试进展顺利工业和信息化部TD-LTE工作组对TD-LTE技术试验整体的计划安排如图1所示,对系统设备来讲,首先是单系统2.3GHz的基本集测试和完整集测试,其次是对2.6GHz单系统的功能、射频、性能、硬件做一个回归测试,再次是配合芯片的测试以及室内和室外的关键技术测试,最后是组网性能的测试。
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关 键 词: | 设备测试 技术试验 系统 回归测试 信息化 性能 射频 芯片 |
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