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| 基于电子设备的可靠性设计技术分析 | |
| 引用本文： | 张割,马乔兵.基于电子设备的可靠性设计技术分析[J].电子世界,2013(22):9-9. |
| 作者姓名： | 张割 马乔兵 |
| 作者单位： | 北京航空工程技术研究中心 |
| 摘 要： | 文中基于电子设备的可靠性设计技术，主要分析了以下内容：电子设备可靠性预计、电子元器件的选择与控制、电子元器件的降顿设计、电子元器件的热设计、电子元器件的冗余设计以及电子元器件的潜电路分析等方面的内客。 |
| 关 键 词： | 电子设备 可靠性 降顿设计 热设计 潜电路 |
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