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| 用比较法测量面天线增益的误差及讨论 | |
| 引用本文： | 都世民.用比较法测量面天线增益的误差及讨论[J].计量技术,1983(1). |
| 作者姓名： | 都世民 |
| 作者单位： | 北京无线电测量研究所 |
| 摘 要： | 一、问题的提出近几年来,天线工程师们关心下列几个问题: (1)据国内外文献报导,大型反射面天线的效率已达到90%左右,中小型天线效率达到70%左右。这是否达到理论极限值? (2)天线效率的理论计算值与实测值之差为(0.1～0.2)分贝,用什么办法鉴定? (3)随着计算机的发展和天线自动化测试技术的提高,人们想借助计算机计算天线性能代替天线外场测量,从而可以缩短研制周期和减少试验费用。这对大型天线的研制非常需要。 (4)微波天线增益测量方法主要有:绝对法、比较法(包括二次比较法)、射电星法、散射场积分法、次级方向图积分法、测量输出端功率法等。这些方法对同一天线进行测量,其结果并不一定相同,哪种方法精确度高?比较法测增益能否达到±0.2分贝(或更高)的测试精度? |
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