电应力加速退化试验技术及可靠性评估研究 |
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引用本文: | 孙志旺,梁玉英,潘刚,张国龙,李伟.电应力加速退化试验技术及可靠性评估研究[J].中国测试技术,2014(5). |
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作者姓名: | 孙志旺 梁玉英 潘刚 张国龙 李伟 |
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作者单位: | 军械工程学院电子与光学工程系; |
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基金项目: | 国家自然科学基金项目(61271153) |
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摘 要: | 为探究电冲击对电子装备寿命的影响,选取电源通断瞬间产生的高压为电冲击加速应力,并以雷达某系统功能电路板为研究对象,开展电应力加速退化试验。通过对试验数据的统计分析,得到基于性能退化轨迹的伪失效寿命,并在Weibull分布条件下进行参数估计,提出基于电应力的电源开关通断电加速模型,并实现对某型雷达功能电路板的可靠性评估。
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关 键 词: | 电冲击 加速退化试验 伪失效寿命 可靠性评估 |
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