半导体参数自动测量和提取中GPIB与IBMPC接口技术 |
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引用本文: | 林长贵,李同合.半导体参数自动测量和提取中GPIB与IBMPC接口技术[J].微电子学与计算机,1994,11(2):18-20. |
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作者姓名: | 林长贵 李同合 |
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摘 要: | 本文介绍的HP测试仪与IBM PC微机构成的系统集测量与数据处理于一体,成功地实现了半导体参数的快速测量和提取,为集成电路和设计和开发提供了有效的手段,着重介绍GPIB测控总线与IBMPC系统总线的接口原理及软/硬件实现方法。
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关 键 词: | 半导体参数 自动测量 接口设备 |
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