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| 用扫描干涉法测定光电系统高频响应 | |
| 引用本文： | 叶培德,史珺. 用扫描干涉法测定光电系统高频响应[J]. 红外与毫米波学报, 1991, 10(3) |
| 作者姓名： | 叶培德 史珺 |
| 作者单位： | 中国科学院上海技术物理研究所，中国科学院上海技术物理研究所 上海 200083，上海 200083 |
| 摘 要： | 提出了用扫描Fabry-Perot干涉仪对光电系统10～500MHz的频率响应进行测试的方法。用信号半值宽度τ_m来估计光电系统的高频截止频率fc,讨论了fc=1/1.7τ_m的理论依据和适用范围。本方法的特点是无需高频光源和高频信号源,即可进行光电系统的高频响应测试。 |
| 关 键 词： | 扫描Fabry-Perot干涉仪 光电系统 高频响应 |
MEASUREMENT OF HIGH FREQUENCY RESPONSE OF OPTO-ELECTRICAL SYSTEM USING SCANNING FABRY-PEROT INTERFEROMETER |
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| YE PEIDE,SHI JUN. MEASUREMENT OF HIGH FREQUENCY RESPONSE OF OPTO-ELECTRICAL SYSTEM USING SCANNING FABRY-PEROT INTERFEROMETER[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 1991, 10(3) | |
| Authors: | YE PEIDE SHI JUN |
| Abstract: | |
| Keywords: | scanning Fabry-Perot interferometer opto-electrical system high frequency response. |
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