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AgSnO_2/Cu复合铆钉触点在服役过程中的界面开裂
引用本文:王勇,徐永红,程世芳,章应,田茂江,周晓荣.AgSnO_2/Cu复合铆钉触点在服役过程中的界面开裂[J].电工材料,2015(1):3-7,11.
作者姓名:王勇  徐永红  程世芳  章应  田茂江  周晓荣
作者单位:1. 重庆川仪金属功能材料分公司,重庆市电子电器功能材料工程技术研究中心,重庆 400702; 重庆大学材料科学与工程学院,重庆 400045
2. 重庆川仪金属功能材料分公司,重庆市电子电器功能材料工程技术研究中心,重庆 400702
3. 重庆大学材料科学与工程学院,重庆,400045
基金项目:重庆市应用开发计划项目(cstc2013yykfB50005);“十二五”国家科技支撑计划项目
摘    要:裂纹是影响电触点使用寿命的主要原因之一,本文对AgSnO2/Cu复合铆钉触点的常见裂纹进行了归纳分析。从裂纹产生的部位来看,复合铆钉触点中的裂纹主要有两类,一类产生于AgSnO2触点层,其起源主要是Ag与SnO2颗粒界面;另一类产生于AgSnO2与Cu的界面,其起源一是结合界面本身,二是AgSnO2触点层裂纹扩展至界面而成。两类裂纹均缩短触点使用寿命,但AgSnO2/Cu界面裂纹危害更大。改善Ag与SnO2颗粒的高温润湿性和提高AgSnO2/Cu界面结合强度是改善复合铆钉触点性能的重要途径。

关 键 词:AgSnO2  复合铆钉  裂纹  界面

Interface Cracks of AgSnO2/Cu Bimetal Layered Contact Rivet During Service
WANG Yong,XU Yong-hong,CHENG Shi-fang,ZHANG Ying,TIAN Mao-jiang,ZHOU Xiao-rong.Interface Cracks of AgSnO2/Cu Bimetal Layered Contact Rivet During Service[J].Electrical Engineering Materials,2015(1):3-7,11.
Authors:WANG Yong  XU Yong-hong  CHENG Shi-fang  ZHANG Ying  TIAN Mao-jiang  ZHOU Xiao-rong
Affiliation:WANG Yong;XU Yong-hong;CHENG Shi-fang;ZHANG Ying;TIAN Mao-jiang;ZHOU Xiao-rong;Chongqing Engineering Research Center of Electron & Electrical Materials,Chongqing Chuanyi Metallic Functional Materials Co., Ltd.;College of Materials Science & Engineering, Chongqing University;
Abstract:
Keywords:AgSnO2  bimetal rivet  crack  interface
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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