首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

完善组装工艺与实施统计过程控制(SPC)
引用本文:杨建生,陈建军.完善组装工艺与实施统计过程控制(SPC)[J].电子质量,2003(11):35-36.
作者姓名:杨建生  陈建军
作者单位:天水华天微电子有限公司
摘    要:本文主要说明了X射线分层摄影法的在线检测,统计过程控制(SPC)在BGA装配中的应用,并通过BGA定位、制程能力、焊料桥接、焊料开路、焊料短路和把SPC应用于BGA,进一步简术了装配工艺与履行统计过程控制的关系。

关 键 词:组装工艺  SPC  X射线分层摄影法  统计过程控制  BGA  球栅阵列封装  电子工业  焊接  桥接

Process Development and SPC Implementation
YANG Jian-sheng CHEN Jian-jun TianShuiHuaTian Microelectronics Co.,Ltd..Process Development and SPC Implementation[J].Electronics Quality,2003(11):35-36.
Authors:YANG Jian-sheng CHEN Jian-jun TianShuiHuaTian Microelectronics Co  Ltd
Abstract:The overview of X-ray laminography,SPC for BGA.BGA placement.the process,solder opens and solder bridges(shorts)are briefly and separately stated in this paper. We may therefore , reasonably conclude that in-line X-ray laminography can be used for highly efficient process developrnent ,as well as process control.
Keywords:BGA SPC X-ray laminography  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号