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黏附层以及退火气氛对Au/Si共晶体系中硅扩散的影响研究
引用本文:佟路,戴姜平,谢自力,修向前,赵红,陈鹏,张荣,施毅,韩平,郑有炓. 黏附层以及退火气氛对Au/Si共晶体系中硅扩散的影响研究[J]. 半导体光电, 2015, 36(5): 722-724,745
作者姓名:佟路  戴姜平  谢自力  修向前  赵红  陈鹏  张荣  施毅  韩平  郑有炓
作者单位:南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093;南京大学电子科学与工程学院,江苏省光电功能材料重点实验室,南京210093
摘    要:采用真空蒸镀方法在Si衬底上制备了Si/Au、Si/Ni/Au和Si/Ti/Au结构多层膜,进行多种条件下的退火实验,研究了不同黏附层对Au/Si共晶体系中硅扩散的影响.实验结果表明,黏附层对硅的扩散起到阻挡作用,Ti层与Ni层作为阻挡层在较低温度下发生失效,退火气氛对阻挡层的失效具有显著影响.这表明Au/Si体系中扩散阻挡层失效的机制并不是直接的固相反应.文章提出势垒模型来解释扩散阻挡层的失效机制.

关 键 词:Au/Si  共晶  硅扩散  扩散阻挡层  退火气氛
收稿时间:2014-12-19

Effect of Adhesion Layer and Annealing Ambient on the Diffusion in Si/Au Eutectic System
Abstract:
Keywords:Au/Si  eutectic  diffusion  barrier layer  ambient
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