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氧分压对TiO2薄膜光学性能的影响
引用本文:朱昌,刘佳.氧分压对TiO2薄膜光学性能的影响[J].西安工业大学学报,2008,28(6).
作者姓名:朱昌  刘佳
作者单位:西安工业大学光电工程学院,白俄罗斯国立无线电信息大学薄膜实验室
基金项目:外国专家局人才引进项目 
摘    要:为得到光学性能良好、稳定的TiO2薄膜,采用离子束溅射的方法,改变氧分压,在k9玻璃上制备出不同结晶取向不同光学常数的TiO2薄膜.采用椭圆偏振光谱仪测试、拟合得到薄膜的厚度、折射率和消光系数.薄膜通过400℃退火,利用X射线衍射仪(XRD)对薄膜的成分、结晶和取向进行分析.实验结果发现,随氧分压增加折射率减低,当氧分压达到1.0×10-2Pa时,折射率在2.43附近,变化趋于稳定.氧分压对薄膜的消光系数k影响较大,氧分压高于1.0×10-2Pa时在可见光和近红外区薄膜消光系数近似为0.随氧分压降低,薄膜从(101)向(200)转变.在此氧分压下,得到的薄膜折射率稳定,消光系数相对较小.

关 键 词:离子束溅射  氧化钛薄膜  氧分压  光学性能

Influence of Oxygen Pressure on the Optical Properties of TiO2 Films Deposited with IBS Ion-assisted Technique
Authors:Dmitriy AGolsoy  Sergey MZavatskiy  ZHU Chang  LIU Jia  Dmitriy AGolsoy  Sergey MZavatskiy
Abstract:
Keywords:ion beam sputtering(IBS)  TiO2 thin films  partial pressure of oxygen  optical performance
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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