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光盘读写斑点二维强度分布测量

作者姓名：	杨向阳周望龙邬敏贤金国藩

作者单位：	清华大学精密仪器系，清华大学精密仪器系，清华大学精密仪器系，清华大学精密仪器系

摘要：	提出了用雷顿分析法综合光斑二维强度分布的方法。对显微物镜聚焦光斑进行了实测,结果与理论相符。
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