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磁头-盘片间隙测试仪及其应用

作者姓名：	沈文耀王仁德徐德衍王德林

作者单位：	华东计算技术研究所，华东计算技术研究所，中科院，中科院上海光机所，上海光机所

摘要：	描述了单色光干涉测量技术在磁盘机的磁头-盘片微小间隙测试方面的原理及其几种具体应用。试验的技术方案是在模拟盘片的光学玻璃圆盘上进行的。
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