聚酰亚胺/氧化硅/氧化铝纳米杂化薄膜的制备及结构与性能研究 |
| |
引用本文: | 王伟,刘立柱,杨阳,雷清泉.聚酰亚胺/氧化硅/氧化铝纳米杂化薄膜的制备及结构与性能研究[J].绝缘材料,2005,38(5):11-14. |
| |
作者姓名: | 王伟 刘立柱 杨阳 雷清泉 |
| |
作者单位: | 哈尔滨理工大学材料科学与工程学院,哈尔滨,150040;哈尔滨理工大学电气与电子工程学院,哈尔滨,150040 |
| |
基金项目: | 国家自然科学基金重点资助项目(50137010) |
| |
摘 要: | 用溶胶-凝胶法制备了纳米氧化硅(SiO2)及纳米氧化铝(Al2O3)溶胶,并将二者掺入到聚酰胺酸基体中,亚胺化得到聚酰亚胺(PI)/SiO2/Al2O3杂化薄膜,采用红外光谱、原子力显微镜、热失重及阻抗分析仪对薄膜的结构及热性能、介电性能进行表征。结果表明,SiO2和Al2O3粒子呈纳米级均匀分散在薄膜基体中,并且与有机相存在键合;材料的热分解温度有所提高;介电常数随无机含量的增加而增加。
|
关 键 词: | 聚酰亚胺薄膜 二氧化硅 三氧化二铝 溶胶-凝胶法 杂化薄膜 |
文章编号: | 1009-9239(2005)05-0011-04 |
修稿时间: | 2005年8月31日 |
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录! |
|