Ag掺杂In2S3薄膜的拉曼光谱研究 |
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引用本文: | 林斯乐,马靖,程树英.Ag掺杂In2S3薄膜的拉曼光谱研究[J].功能材料,2013(18):2724-2726. |
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作者姓名: | 林斯乐 马靖 程树英 |
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作者单位: | 福州大学 物理与信息工程学院,福建 福州,350018 |
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基金项目: | 国家自然科学基金资助项目,福州大学科技发展基金资助项目 |
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摘 要: | 利用拉曼光谱结合XRD与SEM测试对未掺杂与Ag掺杂的In2S3薄膜进行了分析研究。XRD测试结果确定了In2S3的物相,并表明掺杂后晶粒尺寸发生一定的变化;拉曼光谱研究表明,掺杂后232、272及300cm-1 3条拉曼谱线发生红移,这是由于掺杂后晶格膨胀引起的。结合部分拉曼谱线半高宽的展宽证实了掺杂后薄膜中存在间隙Ag原子;SEM的测试结果进一步证实Ag掺杂后In2S3晶格存在膨胀,并说明了In2S3薄膜的生长方式。
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关 键 词: | In2S3薄膜 掺杂 拉曼光谱 |
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