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第一块硅片的调试
作者姓名:Frost.  J
作者单位:JACK FROST Integrated Measurement Systems
摘    要:自动设备的特性为设计者提供了更加容易、更加快捷的方法把一度不景气的ASIC设计引入市场

关 键 词:硅片 调试 ASIC 设计 集成电路
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