固态检测器-ICP-AES中的计算机差谱改进技术(Ⅱ)──软件内容 |
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引用本文: | 刘志红,陈元,张展霞,李文冲.固态检测器-ICP-AES中的计算机差谱改进技术(Ⅱ)──软件内容[J].计算机与应用化学,1995(2). |
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作者姓名: | 刘志红 陈元 张展霞 李文冲 |
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作者单位: | 中山大学化学系 |
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基金项目: | 国家教委博士点专项基金,广东省自然科学基金 |
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摘 要: | 采用计算机差谱技术校正光谱干扰,在无需知道基体浓度下,对高含量基体或多组分体系中微量元素能进行准确和快速的测定。详细介绍了C语言编写的实施差谱技术以及实验室例行分析的软件。利用PDA或CCD检测器同时记录ICP-AES发射光谱一段波长范围内信号的优点,差谱法简单易行。对V基体中Al,Al和Mg基体中V的测定结果证明,差谱技术能有效地对光谱干扰和背景干扰进行校正。
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关 键 词: | 差谱法,光谱干扰,ICP-AES,固态检测器 |
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