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| GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理 | |
| 引用本文： | 万威,唐春艳,王玉梅,李方华.GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理[J].电子显微学报,2004,23(4):361-361. |
| 作者姓名： | 万威 唐春艳 王玉梅 李方华 |
| 作者单位： | 中国科学院物理研究所,北京,100080 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 0 72 0 43 ) |
| 摘 要： | 拍摄高分辨电子显微像时未必总靠近Scherzer聚焦条件，且晶体有一定厚度，致使像未必反映晶体结构。对高分辨像进行解卷处理是校正像中畸变的晶体结构信息并提高图像分辨率的有效方法。本文用高分辨像图像解卷处理方法研究GaN材料中缺陷核心的原子配置。 |
| 关 键 词： | 氮化镓晶体 晶体缺陷 高分辨电子显微镜 结构分析 分辨率 |
Deconvolution for high-resolution electron microscope images of defected crystals GaN |
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