首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

相控阵天线远场测试场测量方法
引用本文:窦晓杰,程乃平,倪淑燕.相控阵天线远场测试场测量方法[J].现代电子技术,2013(9).
作者姓名:窦晓杰  程乃平  倪淑燕
作者单位:1. 装备学院 研究生院,北京 101416
2. 装备学院 光电装备系,北京 101416
摘    要:对相控阵天线的特性需要选择合适的测试方法进行测试,为了研究相控阵天线的远场测试,采用远场的测试场测量,对相控阵天线的EIRP、G/T值以及方向图等指标特性的测量方法进行了介绍和研究,并进行了波束修正与电平补偿的说明,此测试方法可准确测量相控阵天线的远场性能并应用于工程实践.

关 键 词:相控阵天线  远场测试  EIRP  G/T  天线方向图
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号