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| 电磁兼容测试用暗室的性能设计 | |
| 引用本文： | 栗原 弘,中江 亦鸿.电磁兼容测试用暗室的性能设计[J].安全与电磁兼容,2005(Z1):8-13. |
| 作者姓名： | 栗原 弘 中江 亦鸿 |
| 作者单位： | TDK公司电波工程事业部 |
| 摘 要： | 作为电磁兼容测试场地,半电波暗室越来越显示出其重要性.介绍了半电波暗室的基本设计方法,并举例介绍了射线法技术,给出了10m法半电波暗室的设计结果. |
| 关 键 词： | 半电波暗室 电磁兼容 射线法技术 电磁吸波材料 电磁兼容 测试场地 半电波暗室 性能设计 Chamber Semi 结果 射线法技术 基本设计方法 显示 |
Design of Semi Anechoic Chamber for EMC |
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| Kurihara Hiroshi,Ekihiro Nakae.Design of Semi Anechoic Chamber for EMC[J].Safety & EMC,2005(Z1):8-13. | |
| Authors: | Kurihara Hiroshi Ekihiro Nakae |
| Abstract: | The semi anechoic chambers are becoming more and more important as EMC test site. The fundamental design method of EMC semi anechoic chamber is explaned. An example, the ray-tracing technique is explaned, and the design result of 10m semi anechoic chamber is shown. |
| Keywords: | semi anechoic chamber EMC ray-tracing technique EM wave absorber |
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