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| 电子万能试验机卡头偏斜对拉伸试验的影响 | |
| 引用本文： | 黄帆,刘承安.电子万能试验机卡头偏斜对拉伸试验的影响[J].物理测试,1995(6):27-28. |
| 作者姓名： | 黄帆 刘承安 |
| 作者单位： | 北京联合大学自动化工程学院 (黄帆)，北京科技大学(刘承安) |
| 摘 要： | 对中度合格，但卡头偏斜的电子万能试验机会给拉伸试件产生附加应力。本文介绍了对这样一台岛津电子万能试验机引起附加力的测试，分析了试中的附加应力，并总结了它与σｂ之比对断口位置的影响，阐明 对卡头偏斜度检查的必要性。 |
| 关 键 词： | 偏斜度 对中度 附加应力 拉伸试验机 |
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