| IC静电放电的测试 |
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| 引用本文： | 陆坚. IC静电放电的测试[J]. 电子与封装, 2004, 4(1): 37-43,27 |
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| 作者姓名： | 陆坚 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第58研究所,江苏,无锡,214035 |
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| 摘 要： | 本文主要论述了静电放电(ESD)人体放电模式的测试过程,包括测试标准、IC管脚的测试组合、IC失效判别以及静电放电敏感度等级分类等。
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| 关 键 词： | ESD HBM 静电放电故障临界电压 |
IC Electrostatic Discharge Test |
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| LU Jian. IC Electrostatic Discharge Test[J]. Electronics & Packaging, 2004, 4(1): 37-43,27 |
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| Authors: | LU Jian |
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| Abstract: | This paper introduce the test procedure of Electrostatic Discharge(ESD)' S Human Body Model (HBM), including test standerd the Pins test combination of IC , IC failure analysis and ESD Sensitivity Classification, etc. |
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| Keywords: | ESD HBM ESD failure threshold |
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