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氮化硅薄膜对晶体硅材料和电池的钝化效果研究
引用本文:龚灿锋,杨德仁,王晓泉,席珍强,汪雷,阙端麟.氮化硅薄膜对晶体硅材料和电池的钝化效果研究[J].太阳能学报,2005,26(5):613-616.
作者姓名:龚灿锋  杨德仁  王晓泉  席珍强  汪雷  阙端麟
作者单位:浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027
基金项目:国家自然科学基金项目(60225010,50032010)
摘    要:利用等离子体增强化学气相沉积技术,在P型直拉单晶硅硅片和铸造多晶硅片以及太阳电池的表面上 沉积了非晶氮化硅(a-SiNx:H)薄膜,并研究了氮化硅薄膜对材料少子寿命和太阳电池性能的影响。研究发现: 氮化硅薄膜显著地提高了晶体硅材料中少子寿命,同时多晶硅太阳电池的开路电压有少量提高,短路电流普遍 提高了1mA/cm2,电池效率提高了2%。实验结果表明:氮化硅薄膜不仅具有表面钝化作用,也有良好的体钝化 作用。

关 键 词:  氮化硅  PECVD  太阳电池  少子寿命
文章编号:0254-0096(2005)05-0613-04
修稿时间:2003年10月21

PASSIVATION EFFECT OF SiNx: H FILM ON CRYSTALLINE SILICON MATERIALS AND SOLAR CELLS
Gong Canfeng,Yang Deren,Wang Xiaoquan,Xi Zhenqiang,Wang Lei,Que Duanlin.PASSIVATION EFFECT OF SiNx: H FILM ON CRYSTALLINE SILICON MATERIALS AND SOLAR CELLS[J].Acta Energiae Solaris Sinica,2005,26(5):613-616.
Authors:Gong Canfeng  Yang Deren  Wang Xiaoquan  Xi Zhenqiang  Wang Lei  Que Duanlin
Abstract:
Keywords:Si  SiNx  PECVD  solar cells  minor carrier lifetime  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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