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pA量级质子束流测量系统
引用本文:贺朝会,耿斌,陈晓华,张前美,杨海亮,李国政,刘恩科. pA量级质子束流测量系统[J]. 核电子学与探测技术, 2000, 20(1): 40-42,4
作者姓名:贺朝会  耿斌  陈晓华  张前美  杨海亮  李国政  刘恩科
作者单位:1. 西北核技术研究所,西安69信箱16分箱,陕西,西安,710024;西安交通大学微电子工程系,陕西西安 710049
2. 西北核技术研究所,西安69信箱16分箱,陕西,西安,710024
3. 西安交通大学微电子工程系,陕西,西安,710049
摘    要:研制的质子束流测量系统,本底电流仅为10^-14A量级,可测最大电流达mA量级。在质子单粒子效应实验中,测得了pA量级的质子束及其随时间变化的关系,为半导体体器件粒子翻转截面的计算提供了必需的数据。

关 键 词:法拉第探测器 静电计 质子束流测量系统
文章编号:0258-0934(2000)01-0040-03

New current measurement system for proton beam of the order of pA
HE Chao-hui,GENG Bin,CHENXiao-hua,ZHANG Qian-mei,YANG Hai-liang,LI Guo-zhengHE Chao-hui,LIU En-ke. New current measurement system for proton beam of the order of pA[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 2000, 20(1): 40-42,4
Authors:HE Chao-hui  GENG Bin  CHENXiao-hua  ZHANG Qian-mei  YANG Hai-liang  LI Guo-zhengHE Chao-hui  LIU En-ke
Abstract:A new current measurement system for proton beam has been developed. Its background current is of the order of 10 -14 A and the maximum current it can measure is of the order of mA. With the system, current of the order of pA vs. time is measured in proton single event effect experiment, providing necessary data for calculation of single event upset (SEU) cross section for semiconductor devices.
Keywords:faraday detector  electrometer  proton beam  single event effect  
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