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0.6 um工艺NMOS ESD保护电路版图优化
引用本文:姜玉稀,陆嘉,冉峰,杨殿雄.0.6 um工艺NMOS ESD保护电路版图优化[J].微计算机信息,2008,24(32).
作者姓名:姜玉稀  陆嘉  冉峰  杨殿雄
基金项目:上海市科委AM基金,项目名称:深亚微米SOC设计中全芯片ESD仿真工具的研究:江苏省专用集成电路重点实验室开放课题,项目名称:高性能DDR2I/O中ESD电路设计与验证
摘    要:本文研究了在0.6um工艺下,数个版图参数对NMOS ESD保护器件性能的影响,并给出了这些版图参数适宜值的范围:提出了用于I/O PAD的ESD保护电路的版图优化方法,并证明了版图优化在提高ESD保护电路性能上的作用.

关 键 词:版图优化

Layout optimization design for 0.6um GGNMOS ESD protection circuit
JIANG Yu-xi,LU Jia-RAN,Feng YANG,Dian xiong.Layout optimization design for 0.6um GGNMOS ESD protection circuit[J].Control & Automation,2008,24(32).
Authors:JIANG Yu-xi  LU Jia-RAN  Feng YANG  Dian xiong
Abstract:
Keywords:ESD  DCGS  SCGS  GGNMOS
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