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多介质工艺X射线光刻制作T形栅
引用本文:孙加兴,叶甜春,谢常青,申云琴,刘刚.多介质工艺X射线光刻制作T形栅[J].真空科学与技术学报,2002,22(3):239-241.
作者姓名:孙加兴  叶甜春  谢常青  申云琴  刘刚
作者单位:1. 天津大学电子信息工程学院,天津,300072
2. 中科院微电子中心,北京,100010
3. 中国科技大学国家同步辐射实验室,合肥,230026
摘    要:半导体器件日益向高频、高速方向发展 ,赝质结高电子迁移率晶体管以其高频、高速、低噪声受到人们重视而发展迅速。在PHEMT的制作工艺中 ,栅线条的制作是至关重要而又极为困难的。采用X射线多介质工艺制作T形栅 ,其形貌清晰 ,线条基本可控 ,为MMIC制作提供了可靠的工艺

关 键 词:X射线  赝质结高电子迁移率晶体管  T形栅  多介质工艺
文章编号:0253-9748(2002)03-0239-03
修稿时间:2001年11月2日

T-shaped Gate Fabrication by X-ray Lithography of Multi-layered Media
Sun Jiaxing ,Ye Tianchun ,Xie Changqing ,Shen Yunqing ,Liu Gang.T-shaped Gate Fabrication by X-ray Lithography of Multi-layered Media[J].JOurnal of Vacuum Science and Technology,2002,22(3):239-241.
Authors:Sun Jiaxing  Ye Tianchun  Xie Changqing  Shen Yunqing  Liu Gang
Affiliation:Sun Jiaxing 2,Ye Tianchun 1,Xie Changqing 1,Shen Yunqing 2,Liu Gang 3
Abstract:
Keywords:X  ary  PHEMT  T  gate  Multi  layer medium technology  
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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