首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

在PCVD工艺中氟对光纤损耗的影响
作者姓名:邓都才  王艳芳  熊建纯  张穆  罗慧英  谢培英
作者单位:武汉邮电科学研究院(邓都才,王艳芳,熊建纯,张穆,罗慧英),武汉邮电科学研究院(谢培英)
摘    要:本文叙述在PCVD法中应用CCl_2F_2作氟源,在制备低OHˉ、低损耗长波长多模梯度光纤的研究结果。 CCl_2F_2容易获得,价格便宜,效果优异,掺F多模梯度光纤在1.39μm的OHˉ附加衰耗已接近1dB/km。并获得了在1.30μm和1.55μm衰耗分别为0.41dB/km和0.21dB/km的超低损耗多模涕度光纤。掺氟单模光纤在1.3μm的衰耗已达0.9dB/km。

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号