| 纳米粒度测量方法浅析 |
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| 引用本文： | 贺小祥,王兴庆. 纳米粒度测量方法浅析[J]. 粉末冶金工业, 2006, 16(6): 31-36 |
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| 作者姓名： | 贺小祥 王兴庆 |
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| 作者单位： | 上海大学材料科学与工程学院,上海,200072 |
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| 摘 要： | 本文介绍了多种纳米颗粒粒度的测量方法。主要讨论了X射线小角散射法、光子相关谱法和透射电镜-图像分析法的原理、适用范围及其优缺点。
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| 关 键 词： | 纳米粒度分析 X射线小角散射 光子相关谱 透射电镜-图像分析 |
| 文章编号： | 1006-6543(2006)06-0031-06 |
| 修稿时间： | 2006-05-15 |
DISCUSSION OF MEASUREMENT METHODS OF NANO - PARTICLE SIZE |
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| HE Xiao-xiang,WANG Xing-qing. DISCUSSION OF MEASUREMENT METHODS OF NANO - PARTICLE SIZE[J]. Powder Metallurgy Industry, 2006, 16(6): 31-36 |
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| Authors: | HE Xiao-xiang WANG Xing-qing |
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| Abstract: | Measurement methods of nano-particle size are reviewed.Small Angle X-ray Scattering(SAXS),Photon Correlation Spectroscopy(PCS)and transmission electron microscopy(TEM)-image analysis are discussed in terms of their principles,applications,advantages and disadvantages. |
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| Keywords: | nano-particle size analysis SAXS PCS TEM-image analysis |
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