用YH—VLSI通用高速功能测试和验证系统解析功能部件

1 引言微电子技术的发展,给测试领域带来新的挑战。一方面是VLSI芯片集成的功能越来越多,所含电路的复杂性指数函数增长。象i860微处理器芯片,内部既有控制部件、运算部件,又有RAM、三维图形部件及接口部件,芯片内集成上百万个晶体管,引出管脚达168。另一方面,芯片对用户越来越不透明。早期的集成电路门数较少,对它的说明及描述相当清晰,生成其功能测试代码不成问题。但随着功能的复杂、门数的增多,对其描述也越来越简单,停留在逻辑框图级或者指令级。如果在电路的工作系统中用实装测试法检验其正确性还较易实现,而要在测试系统中用测试码对其功能进行一一测试就比较困难了。