| 成对测试中的一种用例生成算法 |
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| 引用本文： | 向渝,张骏,汪文勇. 成对测试中的一种用例生成算法[J]. 电子科技大学学报(自然科学版), 2005, 34(6): 821-824 |
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| 作者姓名： | 向渝 张骏 汪文勇 |
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| 作者单位： | 电子科技大学信息中心,成都,610054;电子科技大学信息中心,成都,610054;电子科技大学信息中心,成都,610054 |
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| 摘 要： | 在对嵌入式软件进行黑盒测试研究的基础上,提出了一种基于成对测试设计思想的测试用例生成算法。该方法充分考虑到待测软件所有外部接口参数的可能取值和各种可能取值的组合。实验结果证明,该算法在不影响测试精度的情况下能有效提高测试用例的选择效果。
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| 关 键 词： | 软件测试 测试用例 成对测试 用例生成算法 |
| 收稿时间： | 2005-07-11 |
| 修稿时间： | 2005-07-11 |
A Test Case Generating Algorithm for Pairwise Testing |
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| XIANG Yu,ZHANG Jun,WANG Wen-yong. A Test Case Generating Algorithm for Pairwise Testing[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2005, 34(6): 821-824 |
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| Authors: | XIANG Yu ZHANG Jun WANG Wen-yong |
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| Affiliation: | 1.Information Center,UEST of China Chengdu 610054 |
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| Abstract: | Based on the research of black box testing of the embedded software, a new test case generation algorithm is proposed. This algorithm, based on the principles of pairwise testing, considers all possible values and their combinations on extem interfaces of a system. Experiments results show that this algorithm improves the efficiency of test case generation without any influence on the precision of software test. |
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| Keywords: | software testing test case pairwise testing test case generation algorithm |
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