| 如何保证集成电路的测试质量 |
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| 引用本文： | 叶新艳.如何保证集成电路的测试质量[J].电子产品可靠性与环境试验,2003(3):48-50. |
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| 作者姓名： | 叶新艳 |
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| 作者单位： | 中国航空计算技术研究所，陕西 西安 710068 |
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| 摘 要： | 阐述了集成电路的测试过程中，如何保证其测试质量的几个方面的问题。内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。
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| 关 键 词： | 集成电路 测试 硬件 软件 结果分析 管理 |
| 修稿时间： | 2002年9月2日 |
How to Warrant the Testing Quality of Integrated Circuit |
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| YE Xin - Yan.How to Warrant the Testing Quality of Integrated Circuit[J].Electronic Product Reliability and Environmental Testing,2003(3):48-50. |
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| Authors: | YE Xin - Yan |
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| Abstract: | The article explains several aspects that how to warrant the quality of Integrated Circuit (IC) during the course of the IC' s testing. The components include hardward of measurement device, programming test software and analysing the IC test results. Finally, the paper introduces the arrangement of IC. |
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| Keywords: | IC test hardware software result analysis arrangement |
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