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3″硅片CVD外延电阻丝辐射加热物理基础及升温瞬态过程分析
引用本文:曹青,叶志镇,陈伟华,张侃,赵炳辉,李剑光. 3″硅片CVD外延电阻丝辐射加热物理基础及升温瞬态过程分析[J]. 浙江大学学报(工学版), 1996, 0(4)
作者姓名:曹青  叶志镇  陈伟华  张侃  赵炳辉  李剑光
作者单位:浙大硅材料国家重点实验室
基金项目:国家教委优秀青年教师基金,博士点基金,浙江省自然科学基金
摘    要:本文论述了关于UHVCVD系统电阻丝辐射加热装置传热规律的物理基础;并利用它们对硅片升温的瞬态过程进行了研究,取得了与实验相近的结果.这为UHVCVD硅低温外延时控制硅片温度提供了理论根据.

关 键 词:辐射传热;瞬态;超高真空化学气相沉积;硅

Study on a transient state of temperature rising of a 3" silicon wafer and heat transfer of a radiating resistance in a UHVCVD system
Cao Qing, Ye Zhizhen, Chen Weihua, Zhang Kan,Zhao Binghui, Li Jianguang. Study on a transient state of temperature rising of a 3" silicon wafer and heat transfer of a radiating resistance in a UHVCVD system[J]. Journal of Zhejiang University(Engineering Science), 1996, 0(4)
Authors:Cao Qing   Ye Zhizhen   Chen Weihua   Zhang Kan  Zhao Binghui   Li Jianguang
Abstract:n this paper, some heat-transfering rules of a radiating resistance in a UHVCVD systemwere discribed on principles of heat transfer. A transient state of temperature rising of a 3" Siwafer was analysed and modeled. The result showed that the theoretic analysis appromatesto experimental data.
Keywords:radiant heat transfer  transient state  UHVCVD  silicon
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