| 基于IEEE 1149.7的新一代测试接口实现与应用 |
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| 引用本文： | 徐志磊,郭筝.基于IEEE 1149.7的新一代测试接口实现与应用[J].信息技术,2010,34(8):164-166,169. |
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| 作者姓名： | 徐志磊 郭筝 |
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| 作者单位： | 上海交通大学微电子学院,上海,200240 |
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| 摘 要： | 随着芯片集成度的不断增加和对低功耗设计的重视,原初开发的JTAG（IEEE STD1149.1）面对新的挑战,不能满足当今设计的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7标准和传统的JTAG的边界扫描原理来提供一个更加强大的测试和调试的标准,来达到现在系统的要求。CJTAG用更少的管脚来提供更多的功能,而同时保证了对IEEE1149.1的软件和硬件的兼容性。
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| 关 键 词： | CJTAG接口 IEEESTD1149.7 JTAG接口 IEEESTD1149.1 |
Implementation and application of a next-generation test access port based on IEEE 1149.7 |
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| XU Zhi-lei,GUO Zheng.Implementation and application of a next-generation test access port based on IEEE 1149.7[J].Information Technology,2010,34(8):164-166,169. |
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| Authors: | XU Zhi-lei GUO Zheng |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | IEEE STD 1149 7 IEEE STD 1149 1 |
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