计算干涉条纹图的基本公式和芯区内的定标问题

本文在考虑聚焦效应的情况下,从理论上探讨了用干涉显微镜法测多模梯度型光纤折射率分布的干涉条纹图计算方法。在抛物分布析射率光纤中,通过计算切片样品的有效光程,导出了实测折射率与真实折射率剖面之间的关系。并定性地分析了聚焦效应所产生的“黑环”现象。黑环图象清晰与否表明了物镜物平面与切片出光面重合的情况。如能进一步解决芯区位置的定标问题。则在实际测量中将允许使用较厚的切片样品。