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计量光栅在测量位移中的应用——莫尔条纹技术
引用本文:朱应时.计量光栅在测量位移中的应用——莫尔条纹技术[J].光学精密工程,1981,0(2):33-38.
作者姓名:朱应时
摘    要:本文系统地介绍计量光栅的特点和测量位移的原理;并且还介绍了莫尔条纹读数系统中的一般的读数头的结构,其中特别介绍了两倍、四倍和多倍的读数系统。

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