首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

CBGA组件热变形的3-D SOLID模型有限元分析
引用本文:耿照新,杨玉萍,王卫宁. CBGA组件热变形的3-D SOLID模型有限元分析[J]. 电子器件, 2003, 26(2): 143-147,132
作者姓名:耿照新  杨玉萍  王卫宁
作者单位:1. 首都师范大学物理系,北京,100037
2. 中国科学院物理所,北京,100080
摘    要:利用有限元中的3-DSOLID模型分析CBGA组件的热变形、应变和应力的分布,表明有限元法是研究微电子封装中BGA焊点、CBGA组件的可靠性的方法。

关 键 词:CBGA 热变形 焊点可靠性 有限元
文章编号:1005-9490(2003)02-0143-05

3-D SOLID Model of Finite Element Simulation Analysis in Thermal Deformation of CBGA Assembly
GENG Zhaoxin YANG Yuping WANG Weining. 3-D SOLID Model of Finite Element Simulation Analysis in Thermal Deformation of CBGA Assembly[J]. Journal of Electron Devices, 2003, 26(2): 143-147,132
Authors:GENG Zhaoxin YANG Yuping WANG Weining
Affiliation:GENG Zhaoxin YANG Yuping WANG WeiningDepartment of Physics,Capital Normal University,Beijing 100037,P.R.China, Institute of physics,CAS,Beijing 100080,P.R.China
Abstract:3-D SOLID model of finite element simulation analysis was employed in CBGA thermal deformations, strain and stress. The results show finite element simulation analysis is a reliability method in study the BGA solder joint and the CBGA Assembly of microelectronic package.
Keywords:CBGA  thennal deformation  reliability of solder  finite element simulation
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《电子器件》浏览原始摘要信息
点击此处可从《电子器件》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号