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基于改进YOLOv5的PCB板表面缺陷检测北大核心CSCD
作者姓名:王淑青  张子言  朱文鑫  刘逸凡  王娟  李青珏
作者单位:1. 湖北工业大学电气与电子工程学院;2. 华中科技大学武汉光电国家研究中心
基金项目:国家自然科学基金青年基金资助项目(62006073);
摘    要:针对当前PCB板检测参数量庞大、检测精度低等问题,提出了一种改进YOLOv5的检测模型。以YOLOv5模型为框架,采用EfficientNetV2结构替换原始模型的主干网络,针对小目标缺陷,引入对空间信息更敏感的CA注意力机制,并采用α-IoU损失函数提高模型回归精度。实验结果表明:改进后的YOLOv5网络模型较原始网络均值平均精度提高了2.6%,参数量减少47%,可应用在小型工业检测设备中。

关 键 词:PCB板检测  YOLOv5  EfficientNetV2  缺陷检测  注意力机制  损失函数
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