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AD8302型相位差测量系统的设计
引用本文:郑珍,王海,周渭,张云华.AD8302型相位差测量系统的设计[J].电子科技,2005(11):48-52.
作者姓名:郑珍  王海  周渭  张云华
作者单位:西安电子科技大学,信息处理研究所,陕西,西安,710071;西安电子科技大学,信息处理研究所,陕西,西安,710071;西安电子科技大学,信息处理研究所,陕西,西安,710071;西安电子科技大学,信息处理研究所,陕西,西安,710071
摘    要:传统的相位差测量仪需要采用多片中小规模集成电路,不仅电路复杂,测量相位差的精度不高,而且适用的频率范围窄,因此在实际应用中存在着不足之处.本文介绍了用于RF/IF幅度和相位测量的芯片AD8302、一种高速异步FIFO芯片SN74ACT7808和高速A/D芯片TLC5540的性能特性,并利用MCU及上述芯片设计了一种新型的相位差测量系统,给出了该测量系统的接口电路,并阐述了它的实现原理.

关 键 词:相位差  AD8302  SN74ACT7808  TLC5540
收稿时间:2005-07-11
修稿时间:2005年7月11日

The Design of a System for Measuring the Phase Difference Based on AD8302
Zheng Zhen,Wang Hai,Zhou Wei,Zhang Yunhua.The Design of a System for Measuring the Phase Difference Based on AD8302[J].Electronic Science and Technology,2005(11):48-52.
Authors:Zheng Zhen  Wang Hai  Zhou Wei  Zhang Yunhua
Abstract:In the traditional phase difference measuring instrument, multi-chip middle or small integrated circuits are used, so that the circuits are complex, phase difference measurement is not precise, and the instrument can apply only to a narrow range of frequencies. This paper introduces the characteristics of RF/IF gain and phase detector AD8302, a high A/D chip TLC5540 and a high speed asynchronous FIFO chip SN74ACT7808. It also designs a new system for measuring the phase difference based on AD8302 with the systematic interface circuit provided and its realization principle explained.
Keywords:Phase difference  AD8302  SN74ACT7808  TLC5540
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