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| ISO/TS13762《粒度分析———X射线小角散射法》出版发行 | |
| 引用本文： | 柳春兰.ISO/TS13762《粒度分析———X射线小角散射法》出版发行[J].粉末冶金工业,2002(1). |
| 作者姓名： | 柳春兰 |
| 摘 要： | 早在 2 0世纪 60年代 ,钢铁研究总院就致力于纳米粉末及其制品的研究。有关纳米粉末和相应元器件的制备都实现了产业化 ,为我国的军工事业作出了重大贡献。与此同时积极开展了纳米粉末的测试和表征工作 ,建立并不断完善了关于纳米粉末粒度分布的Ｘ射线小角散射分析方法。该方法适用于测定颗粒尺寸在 1～ 30 0ｎｍ范围内超细粉末的粒度分布 ,也可用于无机、有机溶胶以及生物大分子粒度的测定。它制样方法简便 ;所测定的结果既非晶粒也非团粒而是一次颗粒尺寸 ;一次参与测定的颗粒数高达数百亿个 ,在统计上有充分的代表性。近年来又研究开发出… |
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