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| 寿命试验的数据处理问题 | |
| 引用本文： | 李学智.寿命试验的数据处理问题[J].真空电子技术,1977(6). |
| 作者姓名： | 李学智 |
| 作者单位： | 国营774厂 |
| 摘 要： | 实践告诉我们,一批电子管中各个电子管的寿命之间是互不相同的,有的很长,有的很短。即使是一批寿命很长的电子管中,也会有少数电子管寿命很短。相反,即使在一批寿命很短的电子管中,也会有个别电子管寿命较长。为此,仅仅抓住一批电子管中个别电子管的寿命较长或较短的事实,就企图对整批电子管的寿命长短作出估计,就常常会得出片面的 |
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