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| 支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测工艺方法研究 | |
| 引用本文： | 蒋云,王维东,蔡红生,魏忠瑞.支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测工艺方法研究[J].无损探伤,2009,33(6):6-13. |
| 作者姓名： | 蒋云 王维东 蔡红生 魏忠瑞 |
| 作者单位： | 1. 华东电力试验研究院,上海,200000 2. 徐州电力试验中心,江苏徐州,221009 3. 河南电力试验研究院,河南郑州,450000 4. 济宁模具厂,山东济宁,272031 |
| 摘 要： | 在研制超声波系列探头和与瓷声速相近试决的基础上完成的工艺方法，其中爬波探头可以在距缺陷50mm时检测出深度西1mm当量缺陷，小角度纵波斜探头可以发现支柱瓷绝缘子内部≤Ф1mm当量缺陷，双晶横波探头则可以发现瓷套内部和内壁≤Ф1mm当量缺陷。这意味着根据检测部位和指示长度分析，支柱瓷绝缘子及瓷套超声探伤可以做到定位、定性和定量。 |
| 关 键 词： | 支柱瓷绝缘子 瓷套 超声波检测 工艺方法 |
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