基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的设计与实现 |
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作者姓名: | 陈寿宏 颜学龙 陈凯 |
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作者单位: | 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 |
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基金项目: | 国家自然科学基金项目(61102012);预研基金资助项目(51323XXXXXX) |
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摘 要: | IEEE 1500为核供应者与核应用者提供接口,可有效实现测试电路复用。简要分析IEEE 1500标准,包括核测试壳Wrapper及核测试语言(CTL)两者的结构和特点;论述基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的总体设计目标,设计了测试系统的软硬件体系结构,并构建了测试系统;通过DEMO电路测试验证,系统可正确实现扫描链完备性测试、核功能内测试及核互连测试,表明系统工作稳定,通用性强。
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关 键 词: | IEEE 1500 SOC 测试系统 |
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