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本征微晶硅薄膜孵化层的深入研究
引用本文:张旭营,卢景霄,陈永生,高海波. 本征微晶硅薄膜孵化层的深入研究[J]. 真空, 2011, 48(4)
作者姓名:张旭营  卢景霄  陈永生  高海波
作者单位:郑州大学物理工程学院材料物理教育部重点实验室,河南郑州,450052
基金项目:国家重点基础研究发展规划(973)项目(No.2006CB202601)
摘    要:采用VHF-PECVD技术沉积微晶硅薄膜,获得较高的生长速度,但是薄膜质量较差,这与初始生长过程中生成厚的非晶孵化层关系密切。本研究表明,孵化层的厚度与硅烷浓度、功率密切相关:低的硅烷浓度,能保证成膜过程中氢原子打破弱键的几率,逐层生长现象明显;大的馈入功率,能保证更多氢原子参与成膜反应,减少悬键缺陷。这两方面的优化,最终把孵化层降低到26.55 nm。

关 键 词:VHF-PECVD  本征微晶硅  孵化层  逐层生长  

Further study of the incubation layer in hydrogenated microcrystalline silicon film growth
ZHANG Xu-ying,LU Jing-xiao,CHEN Yong-sheng,GAO Hai-bo. Further study of the incubation layer in hydrogenated microcrystalline silicon film growth[J]. Vacuum(China), 2011, 48(4)
Authors:ZHANG Xu-ying  LU Jing-xiao  CHEN Yong-sheng  GAO Hai-bo
Affiliation:ZHANG Xu-ying,LU Jing-xiao,CHEN Yong-sheng,GAO Hai-bo(Key Laboratory of Materials Physics of Ministry of Education,Zhengzhou University,Zhengzhou 450052,China)
Abstract:
Keywords:
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