| 大电流冲击下MZ23样品炸裂的原因分析 |
| |
| 引用本文： | 荣丽梅,刘兴萍,赖燕,谢永红,包生祥.大电流冲击下MZ23样品炸裂的原因分析[J].电子显微学报,2001,20(4):416-417. |
| |
| 作者姓名： | 荣丽梅 刘兴萍 赖燕 谢永红 包生祥 |
| |
| 作者单位： | 1. 成都电子科技大学材料分析中心,
2. 成都715厂三所, |
| |
| 摘 要： | ＭＺ2 3利用ＰＴＣ陶瓷的电流—时间特性来保护设备的 ,当线路中因故障通过大电流时 ,串联于电路中的ＭＺ2 3ＰＴＣ元件由于ＰＴＣ效应可有效地防止设备因短路造成的破坏。这就要求产品本身在大电流冲击下可靠性好 ,若产品在大电流冲击时本身炸裂 ,则失去了保护作用。本文报道了用ＳＥＭ对由于生产工艺控制不当 ,在试验条件为 :2 2 0Ｖ ,3Ａ ,通 1分断 1 0分实验中炸裂的ＭＺ2 3样品 (该批次样品 1 0 0 %炸裂 )的观察结果 ,并讨论了异常微观结构形成原因及其对产品炸裂的影响。用ＤＸ 3电镜分析了炸裂样品 ,工作条件为 2 5ｋＶ ,1 6 0ｍＡ。…
|
| 关 键 词： | 大电流冲击 MZ23样品 炸裂分析 微观结构 PTC陶瓷 电流－时间特性 设备保护 SEM分析 AST相 |
The analysis of the MZ23 samples on burst struck by a large current |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
