|
|||||
|
|
| 上海技术物理所研制成功IR-2型双波段发射率测量仪 | |
| 摘 要： | 发射率是材料热物性的基本参数之一．近几年来随着红外技术、辐射传热学、辐射测温、太阳能研究、材料科学以及军事目标隐身技术的发展，人们对用于研究材料发射率的测量装置的需求越来越大，对所需发射率测量装置测量精度的要求也越来越高．为了满足这一需求，中国科学院上海技术物理研究所科研人员在其前几年研制的IR-1型发射率测量仪的基础上，最近又研制成功了IR-2型双波段发射率测量仪． |
| 关 键 词： | 双波段 发射率 红外技术 辐射测温 隐身技术 测量装置 IR 研制成功 辐射传热 研究 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《红外》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《红外》下载全文 | |