| ^132Ⅰ半衰期的测量 |
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| 引用本文： | 毛国淑 张生栋 杨磊,丁有钱 崔安智.^132Ⅰ半衰期的测量[J].核化学与放射化学,2005,27(4):216-219. |
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| 作者姓名： | 毛国淑 张生栋 杨磊 丁有钱 崔安智 |
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| 作者单位： | 毛国淑（中国原子能科学研究院,放射化学研究所,北京,102413）;张生栋（中国原子能科学研究院,放射化学研究所,北京,102413）;杨磊（中国原子能科学研究院,放射化学研究所,北京,102413）;丁有钱（中国原子能科学研究院,放射化学研究所,北京,102413）;崔安智（中国原子能科学研究院,放射化学研究所,北京,102413） |
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| 基金项目： | 国防预研基金资助项目（4160205） |
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| 摘 要： | 采用位置接力法和HPGe
γ谱仪跟踪测量132I的半衰期.位置之间的交替测量避免了效率刻度,设定每次跟踪测量的真时间相等,简化数据处理,并用平移和迭代两种方法进行数据处理.实验测得132I的半衰期为(2.283±0.002)h,经检验数据可靠.
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| 关 键 词： | ^132Ⅰ 半衰期 测量 |
| 文章编号： | 0253-9950（2005）04-0216-04 |
| 收稿时间： | 2005-01-13 |
| 修稿时间： | 2005-04-25 |
Measurement of Half-life
of 132I |
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| MAO Guo-shu.Measurement of Half-life
of 132I[J].Journal of Nuclear and Radiochemistry,2005,27(4):216-219. |
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| Authors: | MAO Guo-shu |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ~(132)I half-life measurement |
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