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AlGaN/GaN基HBTs的高频特性模拟
引用本文:冉军学,王晓亮,王翠梅,王军喜,曾一平,李晋闽. AlGaN/GaN基HBTs的高频特性模拟[J]. 半导体学报, 2005, 26(z1): 147-150
作者姓名:冉军学  王晓亮  王翠梅  王军喜  曾一平  李晋闽
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083;中国科学院半导体研究所,北京,100083
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:对n-p-n型AlGaN/GaN基HBTs的高频特性进行了模拟计算,分析了发射区、基区、集电区的一些材料参数对n-p-n型AlGaN/GaN基HBTs的高频特性的影响.发现基区的设计对频率性能影响很大,减小基区厚度、增大空穴浓度和迁移率将有效提高HBTs的频率性能.

关 键 词:HBTs  AlGaN/GaN  截止频率  最高振荡频率
文章编号:0253-4177(2005)S0-0147-04
修稿时间:2004-09-06

Simulation on High-Frequency Performance of AlGaN/GaN HBTs
Ran Junxue,Wang Xiaoliang,Wang Cuimei,Wang Junxi,Zeng Yiping,Li Jinmin. Simulation on High-Frequency Performance of AlGaN/GaN HBTs[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2005, 26(z1): 147-150
Authors:Ran Junxue  Wang Xiaoliang  Wang Cuimei  Wang Junxi  Zeng Yiping  Li Jinmin
Abstract:
Keywords:
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