论红外辐射测温中的几种干扰

本文论述了红外辐射测温中各种干扰的分类和各种干扰产生的机理。这些干扰包括光路中的干扰、外来光干扰和黑度变化产生的干扰。文中还叙述了克服或减小上述各种干扰的措施。最后叙述了杯形表面辐射温度计(又名前置反射器辐射温度计)的一般结构和原理。利用这种辐射温度计可以测量黑度大于0.5的任何工业表面的真实温度,这些表面可以是光滑的、粗糙的或者是静止的和移动的。