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使用扫描力显微镜测量表面电容
引用本文:张兆祥,赵兴钰.使用扫描力显微镜测量表面电容[J].真空科学与技术,1999,19(10):244-248.
作者姓名:张兆祥  赵兴钰
作者单位:北京大学电子学系
摘    要:叙述了两种类型(接触模式和非接触模式)扫描电容显微镜的工作原理,并叙述了不同类型扫描电容显微镜的应用领域。接触模式扫描电容显微镜可以得到样品形貌像、电容像和载流子密度像,非接触模式扫描电容显微镜可以得到样品形貌像、电容梯义像和分布像。

关 键 词:扫描力显微镜  表面电容  测量  半导体器件
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