HF-CVD中辉光等离子体对硅(100)基底上金刚石高密度外延形核的作用 |
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引用本文: | 陈峰,陈岩,王恩哥.HF-CVD中辉光等离子体对硅(100)基底上金刚石高密度外延形核的作用[J].表面工程,1997(1):16-19. |
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作者姓名: | 陈峰 陈岩 王恩哥 |
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摘 要: | 在典型的热丝化学气相沉积(HF-CVD)设备中利用辉光放电等离子体实现了镜面抛光的单晶硅(100)基底上金刚石高密度异质外延形核.实验中以硅基底作为阴极.其表面的放电电流密度高达80mA/cm^2.利用原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM),俄歇电子谱(AES)等测试手段对所得样品进行了分析.结果发现、经过10min的生长之后,在硅(100)表面上实现了金刚石(D)均匀外延形棱,取向关系为D(110)∥Si(110)及D(100)∥Si(100),形核密度高达5×10°/cm^2、根据放电参数对阴极鞘层的等离子体参数的计算结果与AMF歧SEM分析一致,表明了阴极鞘层对于金刚石异质外蜒形桉具有决定作用.并据此讨论了进一步改善异质外延形核均匀性的途径。
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关 键 词: | 形核 辉光等离子体 CVD 金刚石 表面 取向关系 SEM 阴极 均匀 AES |
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